Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник авторов
К списку авторов
Ломов, А. А.
Сортировать по: заглавиюСвязанные описания:
Книга (аналит. описание)
Афанасьев, А. М.
21. Структурная характеризация двойных квантовых ям AlGaAs/GaAs/AlGaAs тонкими разделяющими AlAs-...
б.г.
ISBN отсутствует
Афанасьев, А. М.
21. Структурная характеризация двойных квантовых ям AlGaAs/GaAs/AlGaAs тонкими разделяющими AlAs-...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Васильевский, И. С.
24. Влияние легирования барьерных слоев AlGaAs на структурные и электрофизические свойства систем...
б.г.
ISBN отсутствует
Васильевский, И. С.
24. Влияние легирования барьерных слоев AlGaAs на структурные и электрофизические свойства систем...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Имамов, Р. М.
7. Исследование гетероструктуры InGaAs/GaAs (100) методом рентгеновской дифрактометрии высокого р...
б.г.
ISBN отсутствует
Имамов, Р. М.
7. Исследование гетероструктуры InGaAs/GaAs (100) методом рентгеновской дифрактометрии высокого р...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ломов, А. А.
Асимптотическое диффузное рассеяние рентгеновских лучей в монокристаллах GaAs, легированных кремн...
б.г.
ISBN отсутствует
Ломов, А. А.
Асимптотическое диффузное рассеяние рентгеновских лучей в монокристаллах GaAs, легированных кремн...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Караванский, В. А.
Влияние дефектов на формирование пористых слоев GaP(001) / Поверхность, тонкие пленки
б.г.
ISBN отсутствует
Караванский, В. А.
Влияние дефектов на формирование пористых слоев GaP(001) / Поверхность, тонкие пленки
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ломов, А. А.
Исследование шероховатостей поверхности и границ раздела пористого кремния высокоразрешающими рен...
б.г.
ISBN отсутствует
Ломов, А. А.
Исследование шероховатостей поверхности и границ раздела пористого кремния высокоразрешающими рен...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Чуев, М. А.
Одновременный анализ кривых двухкристальной рентгеновской дифрактометрии от семейства кристаллогр...
б.г.
ISBN отсутствует
Чуев, М. А.
Одновременный анализ кривых двухкристальной рентгеновской дифрактометрии от семейства кристаллогр...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Попов, Я. Н.
Опыт освоения роликовых печей для термической обработки заготовок из подшипниковой стали / Металл...
б.г.
ISBN отсутствует
Попов, Я. Н.
Опыт освоения роликовых печей для термической обработки заготовок из подшипниковой стали / Металл...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ломов, А. А.
Применение рентгеновских дифракционных методов для исследования микронных пористых слоев кремния
б.г.
ISBN отсутствует
Ломов, А. А.
Применение рентгеновских дифракционных методов для исследования микронных пористых слоев кремния
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ломов, А. А.
Рассеяние рентгеновских лучей модулированными структурами пористого кремния
б.г.
ISBN отсутствует
Ломов, А. А.
Рассеяние рентгеновских лучей модулированными структурами пористого кремния
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ломов, А. А.
Рентгендифракционные исследования морфологии и структуры импульсно-анодированных многослойных пор...
б.г.
ISBN отсутствует
Ломов, А. А.
Рентгендифракционные исследования морфологии и структуры импульсно-анодированных многослойных пор...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Сивков, В. Н.
Рентгеновские и синхротронные исследования пористого кремния
б.г.
ISBN отсутствует
Сивков, В. Н.
Рентгеновские и синхротронные исследования пористого кремния
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ломов, А. А.
Рентгенодифракционные исследования многослойной пористой структуры InP(001)
б.г.
ISBN отсутствует
Ломов, А. А.
Рентгенодифракционные исследования многослойной пористой структуры InP(001)
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ломов, А. А.
Структура пористых приповерхностных слоев монокристаллических пластин GaAs(001) по данным рентген...
б.г.
ISBN отсутствует
Ломов, А. А.
Структура пористых приповерхностных слоев монокристаллических пластин GaAs(001) по данным рентген...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ломов, А. А.
Структура слоев пористого германия по данным высокоразрешающей рентгеновской дифрактометрии / Пов...
б.г.
ISBN отсутствует
Ломов, А. А.
Структура слоев пористого германия по данным высокоразрешающей рентгеновской дифрактометрии / Пов...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ломов, А. А.
Структурная характеризация межслойных границ в системе AlxGa1-xAs/GaAs/AlxGa1-xAs методами высоко...
б.г.
ISBN отсутствует
Ломов, А. А.
Структурная характеризация межслойных границ в системе AlxGa1-xAs/GaAs/AlxGa1-xAs методами высоко...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ломов, А. А.
Структурная характеризация пористых слоев InP(001) методом трехкристальной рентгеновской дифракто...
б.г.
ISBN отсутствует
Ломов, А. А.
Структурная характеризация пористых слоев InP(001) методом трехкристальной рентгеновской дифракто...
б.г.
ISBN отсутствует