Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник авторов
К списку авторов
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
4 из 4
Доступно
97 из 97
Доступно
148 из 148
Доступно
67 из 71
Бублик, В. Т.
Сортировать по: заглавиюСвязанные описания:
Доступно
1 из 1
Диссертация
Карман, М. Б.
Исследование ближнего порядка твердых растворов некоторых соединений типа А три В пять методом ди...: дис... к.физ.-мат.н.
[МИСиС], 1976 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Карман, М. Б.
Исследование ближнего порядка твердых растворов некоторых соединений типа А три В пять методом ди...: дис... к.физ.-мат.н.
[МИСиС], 1976 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Книга (аналит. описание)
Бублик, В. Т.
Исследование концентрационной зависимости периода решетки твердых растворов GaAs-GaP и GaAs-AlAs
б.г.
ISBN отсутствует
Бублик, В. Т.
Исследование концентрационной зависимости периода решетки твердых растворов GaAs-GaP и GaAs-AlAs
б.г.
ISBN отсутствует
Доступно
1 из 1
Диссертация
Бублик, В. Т.
Исследование механизма формирования центров рекристаллизации в меди и алюминии: дис... к.физ.-мат.н.
[МИСиС], 1964 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Бублик, В. Т.
Исследование механизма формирования центров рекристаллизации в меди и алюминии: дис... к.физ.-мат.н.
[МИСиС], 1964 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Доступно
1 из 1
Автореферат
Жевнеров, Е. В.
Исследование микродефектов в монокристаллах арсенида галлия, легированного кремнием: автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2011 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Жевнеров, Е. В.
Исследование микродефектов в монокристаллах арсенида галлия, легированного кремнием: автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2011 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Доступно
1 из 1
Диссертация
Жевнеров, Е. В.
Исследование микродефектов в монокристаллах арсенида галлия, легированного кремнием: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2011 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Жевнеров, Е. В.
Исследование микродефектов в монокристаллах арсенида галлия, легированного кремнием: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2011 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Доступно
1 из 1
Автореферат
Перова, Л. Н.
Исследование природы точечных дефектов в арсениде индия: автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков"
[МИСиС], 1979 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Перова, Л. Н.
Исследование природы точечных дефектов в арсениде индия: автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков"
[МИСиС], 1979 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Доступно
1 из 1
Диссертация
Перова, Л. Н.
Исследование природы точечных дефектов в арсениде индия: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков"
[МИСиС], 1979 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Перова, Л. Н.
Исследование природы точечных дефектов в арсениде индия: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков"
[МИСиС], 1979 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Доступно
1 из 1
Автореферат
Вильке, Ю.
Исследование природы точечных дефектов в атимониде галлия: автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков"
[МИСиС], 1981 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Вильке, Ю.
Исследование природы точечных дефектов в атимониде галлия: автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков"
[МИСиС], 1981 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Доступно
1 из 1
Диссертация
Вильке, Ю.
Исследование природы точечных дефектов в атимониде галлия: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков"
[МИСиС], 1981 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Вильке, Ю.
Исследование природы точечных дефектов в атимониде галлия: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков"
[МИСиС], 1981 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Доступно
1 из 1
Диссертация
Гайдай, Л. И.
Исследование природы точечных дефектов в монокристаллах арсенида галлия, нелегированных и легиров...: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков"
[МИСиС], 1979 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Гайдай, Л. И.
Исследование природы точечных дефектов в монокристаллах арсенида галлия, нелегированных и легиров...: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков"
[МИСиС], 1979 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Доступно
1 из 1
Диссертация
Анастасьева, Н. А.
Исследование природы точечных дефектов в сильнолегированных мышьяком кремнии и германии и в арсен...: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.07 - "Физика твердого тела"
[МИСиС], 1977 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Анастасьева, Н. А.
Исследование природы точечных дефектов в сильнолегированных мышьяком кремнии и германии и в арсен...: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.07 - "Физика твердого тела"
[МИСиС], 1977 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Доступно
1 из 1
Диссертация
Крикунов, А. И.
Исследование процессов получения, структуры и электрических свойств тонких слоев антимонида индия...: дис... к.т.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков"
[МИСиС], 1981 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Крикунов, А. И.
Исследование процессов получения, структуры и электрических свойств тонких слоев антимонида индия...: дис... к.т.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков"
[МИСиС], 1981 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Статья
Орлов, А. Ф.
Исследование структурных характеристик ферромагнитного Si, имплантированного Mn
б.г.
ISBN отсутствует
Орлов, А. Ф.
Исследование структурных характеристик ферромагнитного Si, имплантированного Mn
б.г.
ISBN отсутствует
Доступно
1 из 1
Диссертация
Зайцев, А. А.
Исследование твердых растворов KCl-KBr, HgTe и Ge-Sl методом диффузионного рассеяния рентгеновски...: дис... к.физ.-мат.н.
[МИСиС], 1975 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Зайцев, А. А.
Исследование твердых растворов KCl-KBr, HgTe и Ge-Sl методом диффузионного рассеяния рентгеновски...: дис... к.физ.-мат.н.
[МИСиС], 1975 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Доступно
1 из 1
Книга
Исследование технологии эпитаксиального наращивания ферритовых пленок с целью оптимизации состава...
[МИСиС], 1982 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Исследование технологии эпитаксиального наращивания ферритовых пленок с целью оптимизации состава...
[МИСиС], 1982 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Книга (аналит. описание)
Бублик, В. Т.
Исследование упорядочения в системах GaAs-GaP и GAAs-AlAs методом диффузного рассеяния рентгеновс...
б.г.
ISBN отсутствует
Бублик, В. Т.
Исследование упорядочения в системах GaAs-GaP и GAAs-AlAs методом диффузного рассеяния рентгеновс...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Бублик, В. Т.
Исследование фазового состояния примеси в сильно легированном сурьмой кремнии
б.г.
ISBN отсутствует
Бублик, В. Т.
Исследование фазового состояния примеси в сильно легированном сурьмой кремнии
б.г.
ISBN отсутствует
Доступно
1 из 1
Диссертация
Фролов, А. М.
Материаловедческие основы технологии получения термоэлектрических модулей из слитков твердых раст...: дис... к.т.н., спец. 05.27.06 - "Технология полупроводников и материалов электронной
[МИСиС], 1999 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Фролов, А. М.
Материаловедческие основы технологии получения термоэлектрических модулей из слитков твердых раст...: дис... к.т.н., спец. 05.27.06 - "Технология полупроводников и материалов электронной
[МИСиС], 1999 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Доступно
4 из 4
Книга
Бублик, В. Т.
Методы исследования материалов и компонентов электронной техники: учеб. пособие для практ. занятий студ. спец. 20.02
Учеба, 1991 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Бублик, В. Т.
Методы исследования материалов и компонентов электронной техники: учеб. пособие для практ. занятий студ. спец. 20.02
Учеба, 1991 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Доступно
97 из 97
Книга
Бублик, В. Т.
Методы исследования материалов и структур электроники. Рентгеновская дифракционная микроскопия: курс лекций
Учеба, 2006 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный, Студенческий
Бублик, В. Т.
Методы исследования материалов и структур электроники. Рентгеновская дифракционная микроскопия: курс лекций
Учеба, 2006 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный, Студенческий
Доступно
148 из 148
Книга
Мильвидский, А. М.
Методы исследования структур кристаллов. Фазовый анализ и прецизионные измерения параметра решетки: Лаб. практикум
Учеба, 2005 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный, Студенческий
Мильвидский, А. М.
Методы исследования структур кристаллов. Фазовый анализ и прецизионные измерения параметра решетки: Лаб. практикум
Учеба, 2005 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный, Студенческий
Доступно
67 из 71
Книга
Бублик, В. Т.
Методы исследования структуры полупроводников и металлов: учеб. пособие для вузов по спец.- Технология спец. материалов электрон. техники
Металлургия, 1978 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный, Студенческий
Бублик, В. Т.
Методы исследования структуры полупроводников и металлов: учеб. пособие для вузов по спец.- Технология спец. материалов электрон. техники
Металлургия, 1978 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный, Студенческий