Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Бургуэн, Ж. - Точечные дефекты в полупроводниках : Эксперим. аспекты
Бургуэн, Ж. - Точечные дефекты в полупроводниках : Эксперим. аспекты
Доступно
1 из 1
1 из 1
Книга
Автор: Бургуэн, Ж.
Точечные дефекты в полупроводниках : Эксперим. аспекты : Пер. с англ.
Издательство: Мир, 1985 г.
ISBN отсутствует
Автор: Бургуэн, Ж.
Точечные дефекты в полупроводниках : Эксперим. аспекты : Пер. с англ.
Издательство: Мир, 1985 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Книга
II-9 Б-912
Бургуэн, Ж.
Точечные дефекты в полупроводниках : Эксперим. аспекты : Пер. с англ. / Ж. Бургуэн, М. Ланно, Ю. М. Гальперин, др., В. Л. Гуревич, В. Л. Гуревич . – М. : Мир, 1985 . – 304 с. : ил. + Библиогр.: с. 9 (19 назв.). - Предм.указ.: с. 298-300. : руб. 2.70 .
537.311.322
580611 01:Книгохранение
II-9 Б-912
Бургуэн, Ж.
Точечные дефекты в полупроводниках : Эксперим. аспекты : Пер. с англ. / Ж. Бургуэн, М. Ланно, Ю. М. Гальперин, др., В. Л. Гуревич, В. Л. Гуревич . – М. : Мир, 1985 . – 304 с. : ил. + Библиогр.: с. 9 (19 назв.). - Предм.указ.: с. 298-300. : руб. 2.70 .
537.311.322
580611 01:Книгохранение