Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Берман, Л. С. - Анализ временной нестабильности параметров границы раздела диэлектрик-соединение АIIIBV методом и...
Берман, Л. С. - Анализ временной нестабильности параметров границы раздела диэлектрик-соединение АIIIBV методом и...
Статья
Автор: Берман, Л. С.
Физика и техника полупроводников: Анализ временной нестабильности параметров границы раздела диэлектрик-соединение АIIIBV методом и...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Берман, Л. С.
Физика и техника полупроводников: Анализ временной нестабильности параметров границы раздела диэлектрик-соединение АIIIBV методом и...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Берман, Л. С.
Анализ временной нестабильности параметров границы раздела диэлектрик-соединение АIIIBV методом изотермической релаксации емкости / Л. С. Берман // Физика и техника полупроводников . – 1997 . – Т. 31, N 1 . – 78-83 .
Берман, Л. С.
Анализ временной нестабильности параметров границы раздела диэлектрик-соединение АIIIBV методом изотермической релаксации емкости / Л. С. Берман // Физика и техника полупроводников . – 1997 . – Т. 31, N 1 . – 78-83 .
Привязано к:
Доступно
2 из 2
Выпуск
Физика и техника полупроводников Т. 31, N 1
1997 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Физика и техника полупроводников Т. 31, N 1
1997 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный