Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Данишевский, А. М. - Характеризация макродефектов в пленках карбида кремния из данных рентгеновской топографии и комби...
Данишевский, А. М. - Характеризация макродефектов в пленках карбида кремния из данных рентгеновской топографии и комби...
Статья
Автор: Данишевский, А. М.
Физика и техника полупроводников: Характеризация макродефектов в пленках карбида кремния из данных рентгеновской топографии и комби...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Данишевский, А. М.
Физика и техника полупроводников: Характеризация макродефектов в пленках карбида кремния из данных рентгеновской топографии и комби...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Данишевский, А. М.
Характеризация макродефектов в пленках карбида кремния из данных рентгеновской топографии и комбинационного рассеяния / Электронные и и оптические свойства полупроводников / А. М. Данишевский, А. С. Трегубова, А. А. Лебедев // Физика и техника полупроводников . – 1997 . – Т. 31, N 10 . – 1192-1198 .
Данишевский, А. М.
Характеризация макродефектов в пленках карбида кремния из данных рентгеновской топографии и комбинационного рассеяния / Электронные и и оптические свойства полупроводников / А. М. Данишевский, А. С. Трегубова, А. А. Лебедев // Физика и техника полупроводников . – 1997 . – Т. 31, N 10 . – 1192-1198 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Физика и техника полупроводников Т. 31, N 10
1997 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Физика и техника полупроводников Т. 31, N 10
1997 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный