Электронный каталог библиотеки МИСИС

Книга
II-9 Ф-374

Фелдман, Л.
Основы анализа поверхности и тонких пленок / Л. Фелдман, Дж. Майер, В. А. Аркадьев, Л. И. Огнев, В. В. Белошицкий . – М. : Мир, 1989 . – 342 с. : ил. + Библиогр. в конце глав.-Предм. указ.: с. 333-336. - ISBN 5-03-001017-3 : руб. 3.70 .

539.27


617559 01:Книгохранение
617560 01:Книгохранение
617561 01:Книгохранение
617563 01:Книгохранение
619865 01:Книгохранение