Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Глава 9. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS)
Глава 9. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS)
Книга (аналит. описание)
Автор:
Основы анализа поверхности и тонких пленок: Глава 9. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS)
б.г.
ISBN отсутствует
Автор:
Основы анализа поверхности и тонких пленок: Глава 9. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS)
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Книга (аналит. описание)
Глава 9. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS) // Основы анализа поверхности и тонких пленок / Л. Фелдман, Дж. Майер, В. А. Аркадьев, Л. И. Огнев, В. В. Белошицкий . – М. : Мир, 1989 . – с. 211-227 .
Глава 9. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS) // Основы анализа поверхности и тонких пленок / Л. Фелдман, Дж. Майер, В. А. Аркадьев, Л. И. Огнев, В. В. Белошицкий . – М. : Мир, 1989 . – с. 211-227 .
Привязано к:
Доступно
5 из 5
Книга
Фелдман, Л.
Основы анализа поверхности и тонких пленок
Мир, 1989 г.
ISBN 5-03-001017-3
Библиотека МИСиС : Научный
Фелдман, Л.
Основы анализа поверхности и тонких пленок
Мир, 1989 г.
ISBN 5-03-001017-3
Библиотека МИСиС : Научный