Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Измерение толщины эпитаксиальных слоев и геометрических параметров полупроводниковых пластин и ст...
Измерение толщины эпитаксиальных слоев и геометрических параметров полупроводниковых пластин и ст...
Книга (аналит. описание)
Автор:
Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур: Измерение толщины эпитаксиальных слоев и геометрических параметров полупроводниковых пластин и ст...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор:
Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур: Измерение толщины эпитаксиальных слоев и геометрических параметров полупроводниковых пластин и ст...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Книга (аналит. описание)
Измерение толщины эпитаксиальных слоев и геометрических параметров полупроводниковых пластин и структур // Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур / В. В. Батавин, Ю. А. Концевой, Ю. В. Федорович . – М. : Радио и связь, 1985 . – с.98-144 .
Измерение толщины эпитаксиальных слоев и геометрических параметров полупроводниковых пластин и структур // Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур / В. В. Батавин, Ю. А. Концевой, Ю. В. Федорович . – М. : Радио и связь, 1985 . – с.98-144 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Книга
Батавин, В. В.
Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур
Радио и связь, 1985 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Батавин, В. В.
Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур
Радио и связь, 1985 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный