Электронный каталог библиотеки МИСИС

👓
eng|rus
Библиотека МИСИС
 Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт: lib.misis.ru
e-mail: swt@ntb.misis.ru

Поиск :

  • Новые поступления
  • Расширенный поиск
  • Поиск одной строкой
  • Дискавери
  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Публичные полки
  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин
  • Информация о фонде
  • · Журналы
  • · Электронная библиотека МИСИС
  • · Другие электронные учебники
  • · Все электронные ресурсы
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Методы исследования собственных точечных дефектов

Методы исследования собственных точечных дефектов

Книга (аналит. описание)
Автор:
Структурные дефекты в монокристаллах полупроводников: Методы исследования собственных точечных дефектов
б.г.
ISBN отсутствует

На полку На полку


Книга (аналит. описание)

Методы исследования собственных точечных дефектов // Структурные дефекты в монокристаллах полупроводников / М. Г. Мильвидский, В. Б. Освенский . – М. : Металлургия, 1984 . – с. 125-132 .






Привязано к:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)

Доступно
 4 из 4
Книга
Мильвидский, М. Г.
Структурные дефекты в монокристаллах полупроводников
Металлургия, 1984 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный


На полку На полку


© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2024  v.20.167