Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Афанасьев, А. М. - Структурные характеристики многослойной системы GaAs-InxGa1-xAs по данным двухкристальной рентген...
Афанасьев, А. М. - Структурные характеристики многослойной системы GaAs-InxGa1-xAs по данным двухкристальной рентген...
Статья
Автор: Афанасьев, А. М.
Кристаллография: Структурные характеристики многослойной системы GaAs-InxGa1-xAs по данным двухкристальной рентген...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Афанасьев, А. М.
Кристаллография: Структурные характеристики многослойной системы GaAs-InxGa1-xAs по данным двухкристальной рентген...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Афанасьев, А. М.
Структурные характеристики многослойной системы GaAs-InxGa1-xAs по данным двухкристальной рентгеновской дифрактометрии / Реальная структура кристаллов / А. М. Афанасьев, М. А. Чуев, Р. М. Имамов, А. А. Ломов // Кристаллография . – 2000 . – Т. 45, N 4 . – 715-721 .
Афанасьев, А. М.
Структурные характеристики многослойной системы GaAs-InxGa1-xAs по данным двухкристальной рентгеновской дифрактометрии / Реальная структура кристаллов / А. М. Афанасьев, М. А. Чуев, Р. М. Имамов, А. А. Ломов // Кристаллография . – 2000 . – Т. 45, N 4 . – 715-721 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1