Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Корнилов, В. М. - К вопросу о модификации поверхности кремния при ее исследовании методом сканирующей туннельной ми...
Корнилов, В. М. - К вопросу о модификации поверхности кремния при ее исследовании методом сканирующей туннельной ми...
Статья
Автор: Корнилов, В. М.
Физика и техника полупроводников: К вопросу о модификации поверхности кремния при ее исследовании методом сканирующей туннельной ми...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Корнилов, В. М.
Физика и техника полупроводников: К вопросу о модификации поверхности кремния при ее исследовании методом сканирующей туннельной ми...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Корнилов, В. М.
К вопросу о модификации поверхности кремния при ее исследовании методом сканирующей туннельной микроскопии / Полупроводниковые структуры, границы раздела и поверхность / В. М. Корнилов, А. Н. Лачинов // Физика и техника полупроводников . – Издается с января 1967 года . – 2003 . – Т. 37, N 3 . – с. 323-327 .
Корнилов, В. М.
К вопросу о модификации поверхности кремния при ее исследовании методом сканирующей туннельной микроскопии / Полупроводниковые структуры, границы раздела и поверхность / В. М. Корнилов, А. Н. Лачинов // Физика и техника полупроводников . – Издается с января 1967 года . – 2003 . – Т. 37, N 3 . – с. 323-327 .