Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Исследование и разработка методов повышения стойкости и улучшения параметров полупроводниковых пр...
Исследование и разработка методов повышения стойкости и улучшения параметров полупроводниковых пр...
Доступно
1 из 1
1 из 1
Книга
Автор:
Исследование и разработка методов повышения стойкости и улучшения параметров полупроводниковых пр...
Издательство: [МИСиС], 1983 г.
ISBN отсутствует
Автор:
Исследование и разработка методов повышения стойкости и улучшения параметров полупроводниковых пр...
Издательство: [МИСиС], 1983 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Книга
Исследование и разработка методов повышения стойкости и улучшения параметров полупроводниковых приборов и интегральных схем с применением электронно-ионной и лазерной обработки. Исследование физической природы радиационных дефектов в полупроводниковых приборах и интегральных схемах / Е. А. Ладыгин, Н. Н. Горюнов . – М. : [МИСиС], 1983 . – 81 с. : ил. - Шифр темы 135006. ГР N У76571. - Для служебного пользования.
Общий = Электротехника : электроника
СП-17330 27:Фонд отчетов ДСП МИСиС
Исследование и разработка методов повышения стойкости и улучшения параметров полупроводниковых приборов и интегральных схем с применением электронно-ионной и лазерной обработки. Исследование физической природы радиационных дефектов в полупроводниковых приборах и интегральных схемах / Е. А. Ладыгин, Н. Н. Горюнов . – М. : [МИСиС], 1983 . – 81 с. : ил. - Шифр темы 135006. ГР N У76571. - Для служебного пользования.
Общий = Электротехника : электроника
СП-17330 27:Фонд отчетов ДСП МИСиС