Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Кайзер, У. - Частичные дислокации и дефекты упаковки в кубическом SiC / Реальная структура кристаллов
Кайзер, У. - Частичные дислокации и дефекты упаковки в кубическом SiC / Реальная структура кристаллов
Статья
Автор: Кайзер, У.
Кристаллография: Частичные дислокации и дефекты упаковки в кубическом SiC / Реальная структура кристаллов
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Кайзер, У.
Кристаллография: Частичные дислокации и дефекты упаковки в кубическом SiC / Реальная структура кристаллов
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Кайзер, У.
Частичные дислокации и дефекты упаковки в кубическом SiC / Реальная структура кристаллов / У. Кайзер, И. И. Ходос, М. Н. Ковальчук, В. Рихтер // Кристаллография . – 2001 . – Т. 46, N 6 . – 1089-1097 .
Кайзер, У.
Частичные дислокации и дефекты упаковки в кубическом SiC / Реальная структура кристаллов / У. Кайзер, И. И. Ходос, М. Н. Ковальчук, В. Рихтер // Кристаллография . – 2001 . – Т. 46, N 6 . – 1089-1097 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1