Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Афанасьев, А. М. - Структурная характеризация ультратонких квантовых ям Si1-xGex в матрице Si с помощью рентгеновско...
Афанасьев, А. М. - Структурная характеризация ультратонких квантовых ям Si1-xGex в матрице Si с помощью рентгеновско...
Статья
Автор: Афанасьев, А. М.
Кристаллография: Структурная характеризация ультратонких квантовых ям Si1-xGex в матрице Si с помощью рентгеновско...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Афанасьев, А. М.
Кристаллография: Структурная характеризация ультратонких квантовых ям Si1-xGex в матрице Si с помощью рентгеновско...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Афанасьев, А. М.
Структурная характеризация ультратонких квантовых ям Si1-xGex в матрице Si с помощью рентгеновской дифракции высокого разрешения / Поверхность, тонкие пленки, наноматериалы / А. М. Афанасьев, М. А. Чуев, Р. М. Имамов, Э. Х. Мухамеджанов, М. М. Рзаев, Ф. Шеффлер, М. Мельбергер // Кристаллография . – Основан в 1956 году . – 2002 . – Т. 47, N 6 . – с. 1130-1134 .
Афанасьев, А. М.
Структурная характеризация ультратонких квантовых ям Si1-xGex в матрице Si с помощью рентгеновской дифракции высокого разрешения / Поверхность, тонкие пленки, наноматериалы / А. М. Афанасьев, М. А. Чуев, Р. М. Имамов, Э. Х. Мухамеджанов, М. М. Рзаев, Ф. Шеффлер, М. Мельбергер // Кристаллография . – Основан в 1956 году . – 2002 . – Т. 47, N 6 . – с. 1130-1134 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1