Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Иванов-Омский, В. И. - Сканирующие туннельные микроскопия и спектроскопия аморфного углерода / Обзоры
Иванов-Омский, В. И. - Сканирующие туннельные микроскопия и спектроскопия аморфного углерода / Обзоры
Статья
Автор: Иванов-Омский, В. И.
Физика и техника полупроводников: Сканирующие туннельные микроскопия и спектроскопия аморфного углерода / Обзоры
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Иванов-Омский, В. И.
Физика и техника полупроводников: Сканирующие туннельные микроскопия и спектроскопия аморфного углерода / Обзоры
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Иванов-Омский, В. И.
Сканирующие туннельные микроскопия и спектроскопия аморфного углерода / Обзоры / В. И. Иванов-Омский, А. Б. Лодыгин, С. Г. Ястребов // Физика и техника полупроводников . – 2000 . – Т. 35, N 12 . – 1409-1416 .
Иванов-Омский, В. И.
Сканирующие туннельные микроскопия и спектроскопия аморфного углерода / Обзоры / В. И. Иванов-Омский, А. Б. Лодыгин, С. Г. Ястребов // Физика и техника полупроводников . – 2000 . – Т. 35, N 12 . – 1409-1416 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Физика и техника полупроводников Т. 35, N 12
2000 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Физика и техника полупроводников Т. 35, N 12
2000 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный