Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Шварц, В. П. - Получение и исследование свойств профилированных кристаллов Bi2Te3-Bi2Se3 и Sb2Te3-Bi2Te3 для тер...
Шварц, В. П. - Получение и исследование свойств профилированных кристаллов Bi2Te3-Bi2Se3 и Sb2Te3-Bi2Te3 для тер...
Доступно
1 из 1
1 из 1
Диссертация
Автор: Шварц, В. П.
Получение и исследование свойств профилированных кристаллов Bi2Te3-Bi2Se3 и Sb2Te3-Bi2Te3 для тер... : дис... к.т.н., спец. 05.27.06 - "Технология полупроводников и материалов электронной техники "
Издательство: [МИСиС], 1988 г.
ISBN отсутствует
Автор: Шварц, В. П.
Получение и исследование свойств профилированных кристаллов Bi2Te3-Bi2Se3 и Sb2Te3-Bi2Te3 для тер... : дис... к.т.н., спец. 05.27.06 - "Технология полупроводников и материалов электронной техники "
Издательство: [МИСиС], 1988 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Диссертация
VIII-5 Ш-337дп ДСП
Шварц, В. П.
Получение и исследование свойств профилированных кристаллов Bi2Te3-Bi2Se3 и Sb2Te3-Bi2Te3 для термоэлектрических микроустройств. (Приложение) : дис... к.т.н., спец. 05.27.06 - "Технология полупроводников и материалов электронной техники " / В. П. Шварц ; науч. рук. Ю. Г. Полистанский . – М. : [МИСиС], 1988 . – 57 с. - Для служебного пользования .
СП-22115а 21:Фонд дис.ДСП МИСиС
VIII-5 Ш-337дп ДСП
Шварц, В. П.
Получение и исследование свойств профилированных кристаллов Bi2Te3-Bi2Se3 и Sb2Te3-Bi2Te3 для термоэлектрических микроустройств. (Приложение) : дис... к.т.н., спец. 05.27.06 - "Технология полупроводников и материалов электронной техники " / В. П. Шварц ; науч. рук. Ю. Г. Полистанский . – М. : [МИСиС], 1988 . – 57 с. - Для служебного пользования .
СП-22115а 21:Фонд дис.ДСП МИСиС