Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Крылов, Д. Г. - Модель радиационного накопления дефектов в системе кремний-оксид кремния / Краткие сообщения
Крылов, Д. Г. - Модель радиационного накопления дефектов в системе кремний-оксид кремния / Краткие сообщения
Статья
Автор: Крылов, Д. Г.
Физика и техника полупроводников: Модель радиационного накопления дефектов в системе кремний-оксид кремния / Краткие сообщения
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Крылов, Д. Г.
Физика и техника полупроводников: Модель радиационного накопления дефектов в системе кремний-оксид кремния / Краткие сообщения
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Крылов, Д. Г.
Модель радиационного накопления дефектов в системе кремний-оксид кремния / Краткие сообщения / Д. Г. Крылов, Е. А. Ладыгин, А. П. Галеев // Физика и техника полупроводников . – 1992 . – Т. 26, N 7 . – 1347-1350 .
Крылов, Д. Г.
Модель радиационного накопления дефектов в системе кремний-оксид кремния / Краткие сообщения / Д. Г. Крылов, Е. А. Ладыгин, А. П. Галеев // Физика и техника полупроводников . – 1992 . – Т. 26, N 7 . – 1347-1350 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Физика и техника полупроводников Т. 26, N 7
1992 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Физика и техника полупроводников Т. 26, N 7
1992 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный