Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Выборнов, В. В. - Реконструкция глубинной структуры микротрещин в кремнии с помощью метода ттомографии наведенного ...
Выборнов, В. В. - Реконструкция глубинной структуры микротрещин в кремнии с помощью метода ттомографии наведенного ...
Статья
Автор: Выборнов, В. В.
Физика и техника полупроводников: Реконструкция глубинной структуры микротрещин в кремнии с помощью метода ттомографии наведенного ...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Выборнов, В. В.
Физика и техника полупроводников: Реконструкция глубинной структуры микротрещин в кремнии с помощью метода ттомографии наведенного ...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Выборнов, В. В.
Реконструкция глубинной структуры микротрещин в кремнии с помощью метода ттомографии наведенного тока в растровом электронном микроскопе / В. В. Выборнов, И. Е. Бондаренко, С. К. Лихарев, В. П. Трифоненков // Физика и техника полупроводников . – 1992 . – Т. 26, N 12 . – 2076-2082 .
Выборнов, В. В.
Реконструкция глубинной структуры микротрещин в кремнии с помощью метода ттомографии наведенного тока в растровом электронном микроскопе / В. В. Выборнов, И. Е. Бондаренко, С. К. Лихарев, В. П. Трифоненков // Физика и техника полупроводников . – 1992 . – Т. 26, N 12 . – 2076-2082 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Физика и техника полупроводников Т. 26, N 12
1992 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Физика и техника полупроводников Т. 26, N 12
1992 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный