Электронный каталог библиотеки МИСИС

👓
eng|rus
Библиотека МИСИС
Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт: lib.misis.ru
e-mail: swt@ntb.misis.ru

Поиск :

  • Новые поступления
  • Расширенный поиск
  • Поиск одной строкой
  • Дискавери

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Публичные полки

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде

  • · Журналы
  • · Электронная библиотека МИСИС
  • · Другие электронные учебники
  • · Все электронные ресурсы

  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Левин, М. Н. - Прямой метод определения плотности поверхностных состояний по токам накачки заряда

Левин, М. Н. - Прямой метод определения плотности поверхностных состояний по токам накачки заряда

Статья
Автор: Левин, М. Н.
Физика и техника полупроводников: Прямой метод определения плотности поверхностных состояний по токам накачки заряда
б.г.
ISBN отсутствует

На полку На полку


Статья

Левин, М. Н.
Прямой метод определения плотности поверхностных состояний по токам накачки заряда / М. Н. Левин, В. И. Литманович, А. В. Татаринцев, В. Е. Чернышев // Физика и техника полупроводников . – 1993 . – Т. 27, N 1 . – 3-11 .






Привязано к:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)

Доступно
 1 из 1
Выпуск

Физика и техника полупроводников Т. 27, N 1
1993 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный


На полку На полку


© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.167