Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Галкин, И. М. - Рентгенодифракционное исследование границы раздела между кристаллами Hg1-xCdxTe и анодными пленками
Галкин, И. М. - Рентгенодифракционное исследование границы раздела между кристаллами Hg1-xCdxTe и анодными пленками
Статья
Автор: Галкин, И. М.
Физика и техника полупроводников: Рентгенодифракционное исследование границы раздела между кристаллами Hg1-xCdxTe и анодными пленками
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Галкин, И. М.
Физика и техника полупроводников: Рентгенодифракционное исследование границы раздела между кристаллами Hg1-xCdxTe и анодными пленками
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Галкин, И. М.
Рентгенодифракционное исследование границы раздела между кристаллами Hg1-xCdxTe и анодными пленками / И. М. Галкин, А. А. Нефедов, В. А. Чапланов, И. А. Шипов, С. С. Якимов // Физика и техника полупроводников . – 1993 . – Т. 27, N 2 . – 239-244 .
Галкин, И. М.
Рентгенодифракционное исследование границы раздела между кристаллами Hg1-xCdxTe и анодными пленками / И. М. Галкин, А. А. Нефедов, В. А. Чапланов, И. А. Шипов, С. С. Якимов // Физика и техника полупроводников . – 1993 . – Т. 27, N 2 . – 239-244 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Физика и техника полупроводников Т. 27, N 2
1993 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Физика и техника полупроводников Т. 27, N 2
1993 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный