Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Кольченко, Т. И. - Диагностика пленок арсенида галлия, выращенных методом атомно-слоевой эпитаксии
Кольченко, Т. И. - Диагностика пленок арсенида галлия, выращенных методом атомно-слоевой эпитаксии
Статья
Автор: Кольченко, Т. И.
Физика и техника полупроводников: Диагностика пленок арсенида галлия, выращенных методом атомно-слоевой эпитаксии
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Кольченко, Т. И.
Физика и техника полупроводников: Диагностика пленок арсенида галлия, выращенных методом атомно-слоевой эпитаксии
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Кольченко, Т. И.
Диагностика пленок арсенида галлия, выращенных методом атомно-слоевой эпитаксии / Т. И. Кольченко, В. Т. Коява, В. М. Ломако // Физика и техника полупроводников . – 1993 . – Т. 27, N 5 . – 822-826 .
Кольченко, Т. И.
Диагностика пленок арсенида галлия, выращенных методом атомно-слоевой эпитаксии / Т. И. Кольченко, В. Т. Коява, В. М. Ломако // Физика и техника полупроводников . – 1993 . – Т. 27, N 5 . – 822-826 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Физика и техника полупроводников Т. 27, N 5
1993 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Физика и техника полупроводников Т. 27, N 5
1993 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный