Электронный каталог библиотеки МИСИС

Статья

Имамов, Р. М.
Исследование гетероструктуры InGaAs/GaAs(100) методом рентгеновской дифрактометрии высокого разрешения / Р. М. Имамов, А. А. Ломов, В. П. Сироченко, А. С. Игнатьев, В. Г. Мокеров, Г. З. Немцев, Ю. В. Федоров // Физика и техника полупроводников . – 1994 . – Т. 28, N 8 . – 1346-1354 .