Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Усеинов, Р. Г. - Простой метод определения плотности поверхностных состояний по температурным измерениям ВАХ МОП т...
Усеинов, Р. Г. - Простой метод определения плотности поверхностных состояний по температурным измерениям ВАХ МОП т...
Статья
Автор: Усеинов, Р. Г.
Физика и техника полупроводников: Простой метод определения плотности поверхностных состояний по температурным измерениям ВАХ МОП т...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Усеинов, Р. Г.
Физика и техника полупроводников: Простой метод определения плотности поверхностных состояний по температурным измерениям ВАХ МОП т...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Усеинов, Р. Г.
Простой метод определения плотности поверхностных состояний по температурным измерениям ВАХ МОП транзисторов / Краткие сообщения / Р. Г. Усеинов, Г. И. Зебрев // Физика и техника полупроводников . – Издается с января 1967 года . – 1990 . – Т. 24, N 4 . – с. 752-753 .
Усеинов, Р. Г.
Простой метод определения плотности поверхностных состояний по температурным измерениям ВАХ МОП транзисторов / Краткие сообщения / Р. Г. Усеинов, Г. И. Зебрев // Физика и техника полупроводников . – Издается с января 1967 года . – 1990 . – Т. 24, N 4 . – с. 752-753 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Физика и техника полупроводников Т. 24, N 4
Наука, 1990 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Физика и техника полупроводников Т. 24, N 4
Наука, 1990 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный