Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Таланин, В. И. - Образование микродефектов в полупроводниковом кремнии / Реальная структура кристаллов
Таланин, В. И. - Образование микродефектов в полупроводниковом кремнии / Реальная структура кристаллов
Статья
Автор: Таланин, В. И.
Кристаллография: Образование микродефектов в полупроводниковом кремнии / Реальная структура кристаллов
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Таланин, В. И.
Кристаллография: Образование микродефектов в полупроводниковом кремнии / Реальная структура кристаллов
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Таланин, В. И.
Образование микродефектов в полупроводниковом кремнии / Реальная структура кристаллов / В. И. Таланин, И. Е. Таланин, Д. И. Левинзон // Кристаллография . – Основан в 1956 году . – 2004 . – Т. 49, N 2 . – с. 239-243 .
Таланин, В. И.
Образование микродефектов в полупроводниковом кремнии / Реальная структура кристаллов / В. И. Таланин, И. Е. Таланин, Д. И. Левинзон // Кристаллография . – Основан в 1956 году . – 2004 . – Т. 49, N 2 . – с. 239-243 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1