Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Сорокина, К. Л. - Модификация атомно-силовой микроскопии для изучения электрических свойств кристаллов и пленок. Об...
Сорокина, К. Л. - Модификация атомно-силовой микроскопии для изучения электрических свойств кристаллов и пленок. Об...
Статья
Автор: Сорокина, К. Л.
Кристаллография: Модификация атомно-силовой микроскопии для изучения электрических свойств кристаллов и пленок. Об...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Сорокина, К. Л.
Кристаллография: Модификация атомно-силовой микроскопии для изучения электрических свойств кристаллов и пленок. Об...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Сорокина, К. Л.
Модификация атомно-силовой микроскопии для изучения электрических свойств кристаллов и пленок. Обзор / Поверхность. Тонкие пленки / К. Л. Сорокина, А. Л. Толстихина // Кристаллография . – Основан в 1956 году . – 2004 . – Т. 49, N 3 . – с. 541-565 .
Сорокина, К. Л.
Модификация атомно-силовой микроскопии для изучения электрических свойств кристаллов и пленок. Обзор / Поверхность. Тонкие пленки / К. Л. Сорокина, А. Л. Толстихина // Кристаллография . – Основан в 1956 году . – 2004 . – Т. 49, N 3 . – с. 541-565 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1