Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Шегай, О. А. - Фотопроводимость структур Si/Ge/SiOx и Si/Ge/Si с квантовыми точками германия / Материалы Совещания
Шегай, О. А. - Фотопроводимость структур Si/Ge/SiOx и Si/Ge/Si с квантовыми точками германия / Материалы Совещания
Статья
Автор: Шегай, О. А.
Физика твердого тела: Фотопроводимость структур Si/Ge/SiOx и Si/Ge/Si с квантовыми точками германия / Материалы Совещания
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Шегай, О. А.
Физика твердого тела: Фотопроводимость структур Si/Ge/SiOx и Si/Ge/Si с квантовыми точками германия / Материалы Совещания
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Шегай, О. А.
Фотопроводимость структур Si/Ge/SiOx и Si/Ge/Si с квантовыми точками германия / Материалы Совещания / О. А. Шегай, А. Ю. Березовский, А. И. Никифоров, В. В. Ульянов // Физика твердого тела . – Основан в январе 1959 г . – 2005 . – Т. 47, N 1 . – с. 33-36 .
Шегай, О. А.
Фотопроводимость структур Si/Ge/SiOx и Si/Ge/Si с квантовыми точками германия / Материалы Совещания / О. А. Шегай, А. Ю. Березовский, А. И. Никифоров, В. В. Ульянов // Физика твердого тела . – Основан в январе 1959 г . – 2005 . – Т. 47, N 1 . – с. 33-36 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1