Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Таланин, И. Е. - Анализ контраста электронно-микроскопических изображений D-микродефектов / Технически важные и пе...
Таланин, И. Е. - Анализ контраста электронно-микроскопических изображений D-микродефектов / Технически важные и пе...
Статья
Автор: Таланин, И. Е.
Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники: Анализ контраста электронно-микроскопических изображений D-микродефектов / Технически важные и пе...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Таланин, И. Е.
Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники: Анализ контраста электронно-микроскопических изображений D-микродефектов / Технически важные и пе...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Таланин, И. Е.
Анализ контраста электронно-микроскопических изображений D-микродефектов / Технически важные и перспективные кристаллы. Полупроводники / И. Е. Таланин, В. И. Таланин // Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники . – 2004 . – N 1 . – с. 50-53 .
Таланин, И. Е.
Анализ контраста электронно-микроскопических изображений D-микродефектов / Технически важные и перспективные кристаллы. Полупроводники / И. Е. Таланин, В. И. Таланин // Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники . – 2004 . – N 1 . – с. 50-53 .
Привязано к:
Нет экз.