Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Тогатов, В. В. - Метод измерения времени жизни носителей заряда в базовых областях быстродействующих диодных струк...
Тогатов, В. В. - Метод измерения времени жизни носителей заряда в базовых областях быстродействующих диодных струк...
Статья
Автор: Тогатов, В. В.
Физика и техника полупроводников: Метод измерения времени жизни носителей заряда в базовых областях быстродействующих диодных струк...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Тогатов, В. В.
Физика и техника полупроводников: Метод измерения времени жизни носителей заряда в базовых областях быстродействующих диодных струк...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Тогатов, В. В.
Метод измерения времени жизни носителей заряда в базовых областях быстродействующих диодных структур / Физика полупроводниковых приборов / В. В. Тогатов, П. А. Гнатюк // Физика и техника полупроводников . – Издается с января 1967 года . – 2005 . – Т. 39, N 3 . – с. 378-381 .
Тогатов, В. В.
Метод измерения времени жизни носителей заряда в базовых областях быстродействующих диодных структур / Физика полупроводниковых приборов / В. В. Тогатов, П. А. Гнатюк // Физика и техника полупроводников . – Издается с января 1967 года . – 2005 . – Т. 39, N 3 . – с. 378-381 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Физика и техника полупроводников Т. 39, N 3
Наука, 2005 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный
Физика и техника полупроводников Т. 39, N 3
Наука, 2005 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный