Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Бублик, В. Т. - Исследование дефектообразования в приповерхностных слоях GaAs, имплантированных ионами Be / Физич...
Бублик, В. Т. - Исследование дефектообразования в приповерхностных слоях GaAs, имплантированных ионами Be / Физич...
Статья
Автор: Бублик, В. Т.
Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники: Исследование дефектообразования в приповерхностных слоях GaAs, имплантированных ионами Be / Физич...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Бублик, В. Т.
Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники: Исследование дефектообразования в приповерхностных слоях GaAs, имплантированных ионами Be / Физич...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Бублик, В. Т.
Исследование дефектообразования в приповерхностных слоях GaAs, имплантированных ионами Be / Физические свойства и методы исследования / В. Т. Бублик, Г. И. Кольцов, А. В. Немировский, С. Ю. Юрчук // Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники . – 1998 . – N 2 . – 70-73 .
Бублик, В. Т.
Исследование дефектообразования в приповерхностных слоях GaAs, имплантированных ионами Be / Физические свойства и методы исследования / В. Т. Бублик, Г. И. Кольцов, А. В. Немировский, С. Ю. Юрчук // Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники . – 1998 . – N 2 . – 70-73 .
Привязано к:
Нет экз.