Электронный каталог библиотеки МИСИС

Статья

Колосов, В. Ю.
Электронно-микроскопические исследования микроструктуры поликристаллических конденсатов на основе халькогенидов: влияние состава и толщины на внутреннее искривление кристаллической решетки / Аморфные, стеклообразные и пористые полупроводники / В. Ю. Колосов, Л. М. Веретенников, Ю. Б. Старцева, К. Л. Швамм // Физика и техника полупроводников . – Издается с января 1967 года . – 2005 . – Т. 39, N 8 . – с. 990-994 .