Электронный каталог библиотеки МИСИС

👓
eng|rus
Библиотека МИСИС
Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт: lib.misis.ru
e-mail: swt@ntb.misis.ru

Поиск :

  • Новые поступления
  • Расширенный поиск
  • Поиск одной строкой
  • Дискавери

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Публичные полки

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде

  • · Журналы
  • · Электронная библиотека МИСИС
  • · Другие электронные учебники
  • · Все электронные ресурсы

  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Ковалев, А. И. - Современные методы исследования поверхности металлов и сплавов

Ковалев, А. И. - Современные методы исследования поверхности металлов и сплавов

Доступно
 5 из 5
Книга
Автор: Ковалев, А. И.
Современные методы исследования поверхности металлов и сплавов
Издательство: Металлургия, 1989 г.
ISBN 5-229-00444-4

Заказать Заказать

На полку На полку


Книга
II-1 К-561

Ковалев, А. И.
Современные методы исследования поверхности металлов и сплавов / А. И. Ковалев, Г. В. Щербединский . – М. : Металлургия, 1989 . – 191 с. : ил. + Библиогр.: с.182-191 (296 назв.). - ISBN 5-229-00444-4 : руб. 2.40 .

539.184


616584 01:Книгохранение
616585 01:Книгохранение
616586 01:Книгохранение
616589 01:Книгохранение
616592 01:Книгохранение



Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)

Книга (аналит. описание)

Другие методы анализа поверхности
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

Спектроскопия потерь энергии электронов (СПЭ)
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

Спектроскопия оже-электронов (ОЭС)
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФС, ЭСХА)
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

Практическая растровая электронная микроскопия (РЭМ) и рентгеновский микроанализ (РМА)
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.167