Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Локализованные электронные состояния в системе Si-SiO2
Локализованные электронные состояния в системе Si-SiO2
Книга (аналит. описание)
Автор:
Дефекты в кремнии и на его поверхности: Локализованные электронные состояния в системе Si-SiO2
б.г.
ISBN отсутствует
Автор:
Дефекты в кремнии и на его поверхности: Локализованные электронные состояния в системе Si-SiO2
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Локализованные электронные состояния в системе Si-SiO2 // Дефекты в кремнии и на его поверхности / В. С. Вавилов, В. Ф. Киселев, Б. Н. Мукашев . – М. : Наука, 1990 . – с. 133-190. – (Физика полупроводников и полупроводниковых приборов) .
Локализованные электронные состояния в системе Si-SiO2 // Дефекты в кремнии и на его поверхности / В. С. Вавилов, В. Ф. Киселев, Б. Н. Мукашев . – М. : Наука, 1990 . – с. 133-190. – (Физика полупроводников и полупроводниковых приборов) .