Электронный каталог библиотеки МИСИС

Статья

Бобыль, А. В.
Рентгенодифракционные и электронно-микроскопические исследования влияния гамма-излучения на многослойные гетероструктуры AlGaAs/InGaAs/GaAs / Низкоразмерные системы / А. В. Бобыль, А. А. Гуткин, П. Н. Брунков, И. А. Заморянская, М. А. Яговкина, Ю. Г. Мусихин, Д. А. Саксеев, С. Г. Конников, Н. А. Малеев, В. М. Устинов, П. С. Копьев, В. Т. Пунин, Р. И. Илькаев, Ж. И. Алферов // Физика и техника полупроводников . – Издается с января 1967 года . – 2006 . – Т. 40, N 6 . – с. 707-710 .