Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Afrosimov, V. V. - Diagnostics of films and layers of nanometer thickness using middle energy ion scattering technique
Afrosimov, V. V. - Diagnostics of films and layers of nanometer thickness using middle energy ion scattering technique
Статья
Автор: Afrosimov, V. V.
Физика и техника полупроводников: Diagnostics of films and layers of nanometer thickness using middle energy ion scattering technique
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Afrosimov, V. V.
Физика и техника полупроводников: Diagnostics of films and layers of nanometer thickness using middle energy ion scattering technique
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Afrosimov, V. V.
Diagnostics of films and layers of nanometer thickness using middle energy ion scattering technique / V. V. Afrosimov, R. N. Il'in, V. I. Sakharov, I. T. Serenkov // Физика и техника полупроводников . – 2007 . – Т. 41, N 4 . – P. 497-500 .
Afrosimov, V. V.
Diagnostics of films and layers of nanometer thickness using middle energy ion scattering technique / V. V. Afrosimov, R. N. Il'in, V. I. Sakharov, I. T. Serenkov // Физика и техника полупроводников . – 2007 . – Т. 41, N 4 . – P. 497-500 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Физика и техника полупроводников Т. 41, N 4
2007 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Физика и техника полупроводников Т. 41, N 4
2007 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный