Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Абиев, А. Г. - Обоснование технологических требований к методам измерения толщины при тонколистовой прокатке
Абиев, А. Г. - Обоснование технологических требований к методам измерения толщины при тонколистовой прокатке
Доступно
1 из 1
1 из 1
Диссертация
Автор: Абиев, А. Г.
Обоснование технологических требований к методам измерения толщины при тонколистовой прокатке : дис... к.т.н.
Издательство: [МИСиС], 1970 г.
ISBN отсутствует
Автор: Абиев, А. Г.
Обоснование технологических требований к методам измерения толщины при тонколистовой прокатке : дис... к.т.н.
Издательство: [МИСиС], 1970 г.
ISBN отсутствует
Диссертация
А-15д
Абиев, А. Г.
Обоснование технологических требований к методам измерения толщины при тонколистовой прокатке : дис... к.т.н. / А. Г. Абиев, А. Б. Челюсткин, Ю. Д. Железнов . – М. : [МИСиС], 1970 . – 145 с. : ил. + Библиогр.: разд.паг. - (МВ и ССО СССР. МИСиС. Каф. прокатного и трубного производства).
621.771.23
Общий = Обработка металлов : обработка металлов давлением : прокатка : листы
413363 19:Фонд дис.МИСиС
А-15д
Абиев, А. Г.
Обоснование технологических требований к методам измерения толщины при тонколистовой прокатке : дис... к.т.н. / А. Г. Абиев, А. Б. Челюсткин, Ю. Д. Железнов . – М. : [МИСиС], 1970 . – 145 с. : ил. + Библиогр.: разд.паг. - (МВ и ССО СССР. МИСиС. Каф. прокатного и трубного производства).
621.771.23
Общий = Обработка металлов : обработка металлов давлением : прокатка : листы
413363 19:Фонд дис.МИСиС