Электронный каталог библиотеки МИСИС

Статья

Володин, В. А.
Определение из данных спектроскопии комбинационного рассеяния света состава и деформаций в наноструктурах на основе GexSi1-x с учетом вклада гетерограницы / В. А. Володин, М. Д. Ефремов, А. И. Якимов, Г. Ю. Михалев, А. И. Никифоров, А. В. Двуреченский // Физика и техника полупроводников . – 2007 . – T. 41, N 8 . – С. 950-954 .