Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Бублик, В. Т. - Исследование микродефектов, образующихся на разных стадиях формирования внутреннего геттера в Si,...
Бублик, В. Т. - Исследование микродефектов, образующихся на разных стадиях формирования внутреннего геттера в Si,...
Статья
Автор: Бублик, В. Т.
Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники: Исследование микродефектов, образующихся на разных стадиях формирования внутреннего геттера в Si,...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Бублик, В. Т.
Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники: Исследование микродефектов, образующихся на разных стадиях формирования внутреннего геттера в Si,...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Бублик, В. Т.
Исследование микродефектов, образующихся на разных стадиях формирования внутреннего геттера в Si, выращенном методом Чохральского / В. Т. Бублик, К. Д. Щербачев, М. И. Воронова, К. Л. Енишерлова, Т. Ф. Русак // Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники . – 2007 . – N 3 . – С. 4-14 .
Бублик, В. Т.
Исследование микродефектов, образующихся на разных стадиях формирования внутреннего геттера в Si, выращенном методом Чохральского / В. Т. Бублик, К. Д. Щербачев, М. И. Воронова, К. Л. Енишерлова, Т. Ф. Русак // Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники . – 2007 . – N 3 . – С. 4-14 .
Привязано к:
Нет экз.