Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Биленко, Д. И. - Многопараметровые измерения свойств наноструктур
Биленко, Д. И. - Многопараметровые измерения свойств наноструктур
Книга (аналит. описание)
Автор: Биленко, Д. И.
Оборудование, технологии и аналитические системы для материаловедения, микро- и наноэлектроники. Т. 1: Многопараметровые измерения свойств наноструктур
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Биленко, Д. И.
Оборудование, технологии и аналитические системы для материаловедения, микро- и наноэлектроники. Т. 1: Многопараметровые измерения свойств наноструктур
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Книга (аналит. описание)
Биленко, Д. И.
Многопараметровые измерения свойств наноструктур / Д. И. Биленко // Оборудование, технологии и аналитические системы для материаловедения, микро- и наноэлектроники. Т. 1 : материалы V Российско-Японского семинара (18-19 июня 2007 г.) / ред. Л. В. Кожитов . – М. : Изд-во МИСиС, 2007 . – С. 442-451 .
Биленко, Д. И.
Многопараметровые измерения свойств наноструктур / Д. И. Биленко // Оборудование, технологии и аналитические системы для материаловедения, микро- и наноэлектроники. Т. 1 : материалы V Российско-Японского семинара (18-19 июня 2007 г.) / ред. Л. В. Кожитов . – М. : Изд-во МИСиС, 2007 . – С. 442-451 .
Привязано к:
Доступно
2 из 3
Книга
Оборудование, технологии и аналитические системы для материаловедения, микро- и наноэлектроники. ...: материалы V Российско-Японского семинара (18-19 июня 2007 г.)
Изд-во МИСиС, 2007 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Оборудование, технологии и аналитические системы для материаловедения, микро- и наноэлектроники. ...: материалы V Российско-Японского семинара (18-19 июня 2007 г.)
Изд-во МИСиС, 2007 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный