Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Сих, М. П. - Перспективы анализа поверхности и границ раздела
Сих, М. П. - Перспективы анализа поверхности и границ раздела
Книга (аналит. описание)
Автор: Сих, М. П.
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: Перспективы анализа поверхности и границ раздела
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Сих, М. П.
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: Перспективы анализа поверхности и границ раздела
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Книга (аналит. описание)
Сих, М. П.
Перспективы анализа поверхности и границ раздела / М. П. Сих, Д. Бриггс // Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : пер. с англ. / М. П. Сих, Д. Бриггс, Дж. К. Ривьер, др. ; ред. Д. Бриггс, М. П. Сих . – М. : Мир, 1987 . – С. 11-28 .
Сих, М. П.
Перспективы анализа поверхности и границ раздела / М. П. Сих, Д. Бриггс // Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : пер. с англ. / М. П. Сих, Д. Бриггс, Дж. К. Ривьер, др. ; ред. Д. Бриггс, М. П. Сих . – М. : Мир, 1987 . – С. 11-28 .
Привязано к:
Доступно
5 из 5
Книга
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Мир, 1987 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Мир, 1987 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный