Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Хофман, С. - Послойный анализ
Хофман, С. - Послойный анализ
Книга (аналит. описание)
Автор: Хофман, С.
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: Послойный анализ
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Хофман, С.
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: Послойный анализ
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Книга (аналит. описание)
Хофман, С.
Послойный анализ / С. Хофман // Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : пер. с англ. / М. П. Сих, Д. Бриггс, Дж. К. Ривьер, др. ; ред. Д. Бриггс, М. П. Сих . – М. : Мир, 1987 . – С. 160-202 .
Хофман, С.
Послойный анализ / С. Хофман // Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : пер. с англ. / М. П. Сих, Д. Бриггс, Дж. К. Ривьер, др. ; ред. Д. Бриггс, М. П. Сих . – М. : Мир, 1987 . – С. 160-202 .
Привязано к:
Доступно
5 из 5
Книга
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Мир, 1987 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Мир, 1987 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный