Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Олсон, Р. Р. - Применение ЭОС в микроэлектронике
Олсон, Р. Р. - Применение ЭОС в микроэлектронике
Книга (аналит. описание)
Автор: Олсон, Р. Р.
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: Применение ЭОС в микроэлектронике
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Олсон, Р. Р.
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: Применение ЭОС в микроэлектронике
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Книга (аналит. описание)
Олсон, Р. Р.
Применение ЭОС в микроэлектронике / Р. Р. Олсон, П. В. Палмберг, С. Т. Ховланд, Т. Е. Бреди // Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : пер. с англ. / М. П. Сих, Д. Бриггс, Дж. К. Ривьер, др. ; ред. Д. Бриггс, М. П. Сих . – М. : Мир, 1987 . – С. 244-276 .
Олсон, Р. Р.
Применение ЭОС в микроэлектронике / Р. Р. Олсон, П. В. Палмберг, С. Т. Ховланд, Т. Е. Бреди // Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : пер. с англ. / М. П. Сих, Д. Бриггс, Дж. К. Ривьер, др. ; ред. Д. Бриггс, М. П. Сих . – М. : Мир, 1987 . – С. 244-276 .
Привязано к:
Доступно
5 из 5
Книга
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Мир, 1987 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Мир, 1987 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный