Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Свифт, П. - Прил. 2. Методы учета статической зарядки
Свифт, П. - Прил. 2. Методы учета статической зарядки
Книга (аналит. описание)
Автор: Свифт, П.
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: Прил. 2. Методы учета статической зарядки
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Свифт, П.
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: Прил. 2. Методы учета статической зарядки
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Книга (аналит. описание)
Свифт, П.
Прил. 2. Методы учета статической зарядки / П. Свифт, Д. Шатлуорс, М. П. Сих // Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : пер. с англ. / М. П. Сих, Д. Бриггс, Дж. К. Ривьер, др. ; ред. Д. Бриггс, М. П. Сих . – М. : Мир, 1987 . – С. 488-496 .
Свифт, П.
Прил. 2. Методы учета статической зарядки / П. Свифт, Д. Шатлуорс, М. П. Сих // Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : пер. с англ. / М. П. Сих, Д. Бриггс, Дж. К. Ривьер, др. ; ред. Д. Бриггс, М. П. Сих . – М. : Мир, 1987 . – С. 488-496 .
Привязано к:
Доступно
5 из 5
Книга
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Мир, 1987 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Мир, 1987 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный