Электронный каталог библиотеки МИСИС

👓
eng|rus
Библиотека МИСИС
 Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт: lib.misis.ru
e-mail: swt@ntb.misis.ru

Поиск :

  • Новые поступления
  • Расширенный поиск
  • Поиск одной строкой
  • Дискавери
  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Публичные полки
  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин
  • Информация о фонде
  • · Журналы
  • · Электронная библиотека МИСИС
  • · Другие электронные учебники
  • · Все электронные ресурсы
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Прил. 5. Эмпирические факторы элементной чувствительности для РФЭС

Прил. 5. Эмпирические факторы элементной чувствительности для РФЭС

Книга (аналит. описание)
Автор:
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: Прил. 5. Эмпирические факторы элементной чувствительности для РФЭС
б.г.
ISBN отсутствует

На полку На полку


Книга (аналит. описание)

Прил. 5. Эмпирические факторы элементной чувствительности для РФЭС // Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : пер. с англ. / М. П. Сих, Д. Бриггс, Дж. К. Ривьер, др. ; ред. Д. Бриггс, М. П. Сих . – М. : Мир, 1987 . – С. 563-573 .






Привязано к:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)

Доступно
 5 из 5
Книга

Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Мир, 1987 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный


На полку На полку


© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2024  v.20.167