Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Никитина, А. Г. - Определение энергии и концентрации амфотерных дефектов методом дифференциальной обработки темпера...
Никитина, А. Г. - Определение энергии и концентрации амфотерных дефектов методом дифференциальной обработки темпера...
Статья
Автор: Никитина, А. Г.
Физика и техника полупроводников: Определение энергии и концентрации амфотерных дефектов методом дифференциальной обработки темпера...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Никитина, А. Г.
Физика и техника полупроводников: Определение энергии и концентрации амфотерных дефектов методом дифференциальной обработки темпера...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Никитина, А. Г.
Определение энергии и концентрации амфотерных дефектов методом дифференциальной обработки температурной зависимости концентрации свободных носителей / А. Г. Никитина, В. В. Зуев // Физика и техника полупроводников . – 2008 . – T. 42, N 4 . – С. 389-392 .
Никитина, А. Г.
Определение энергии и концентрации амфотерных дефектов методом дифференциальной обработки температурной зависимости концентрации свободных носителей / А. Г. Никитина, В. В. Зуев // Физика и техника полупроводников . – 2008 . – T. 42, N 4 . – С. 389-392 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Физика и техника полупроводников T. 42, N 4
2008 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Физика и техника полупроводников T. 42, N 4
2008 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный