Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Филатов, П. А. - Микродефекты в термообработанных монокристаллах GaAs(Si), выращенных методом вертикальной направл...
Филатов, П. А. - Микродефекты в термообработанных монокристаллах GaAs(Si), выращенных методом вертикальной направл...
Статья
Автор: Филатов, П. А.
Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники: Микродефекты в термообработанных монокристаллах GaAs(Si), выращенных методом вертикальной направл...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Филатов, П. А.
Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники: Микродефекты в термообработанных монокристаллах GaAs(Si), выращенных методом вертикальной направл...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Филатов, П. А.
Микродефекты в термообработанных монокристаллах GaAs(Si), выращенных методом вертикальной направленной кристаллизации / П. А. Филатов, В. Т. Бублик, А. В. Марков, К. Д. Щербачев, М. И. Воронова // Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники . – 2008 . – N 2 . – С. 29-33 .
Филатов, П. А.
Микродефекты в термообработанных монокристаллах GaAs(Si), выращенных методом вертикальной направленной кристаллизации / П. А. Филатов, В. Т. Бублик, А. В. Марков, К. Д. Щербачев, М. И. Воронова // Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники . – 2008 . – N 2 . – С. 29-33 .
Привязано к:
Нет экз.