Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Божков, В. Г. - Исследование свойств поверхности арсенида галлия методом сканирующей атомно-силовой микроскопии
Божков, В. Г. - Исследование свойств поверхности арсенида галлия методом сканирующей атомно-силовой микроскопии
Статья
Автор: Божков, В. Г.
Физика и техника полупроводников: Исследование свойств поверхности арсенида галлия методом сканирующей атомно-силовой микроскопии
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Божков, В. Г.
Физика и техника полупроводников: Исследование свойств поверхности арсенида галлия методом сканирующей атомно-силовой микроскопии
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Божков, В. Г.
Исследование свойств поверхности арсенида галлия методом сканирующей атомно-силовой микроскопии / В. Г. Божков, Н. А. Торхов, И. В. Ивонин, В. А. Новиков // Физика и техника полупроводников . – 2008 . – Т. 42, N 5 . – С. 546-554 .
Божков, В. Г.
Исследование свойств поверхности арсенида галлия методом сканирующей атомно-силовой микроскопии / В. Г. Божков, Н. А. Торхов, И. В. Ивонин, В. А. Новиков // Физика и техника полупроводников . – 2008 . – Т. 42, N 5 . – С. 546-554 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Физика и техника полупроводников Т. 42, N 5
2008 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Физика и техника полупроводников Т. 42, N 5
2008 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный