Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Смирнов, А. М. - Использование сканирующей туннельной микроскопии для анализа магнитной структуры и поверхностных ...
Смирнов, А. М. - Использование сканирующей туннельной микроскопии для анализа магнитной структуры и поверхностных ...
Книга (аналит. описание)
Автор: Смирнов, А. М.
Перспективные технологии, оборудование и аналитические системы для материаловедения и наноматериалов: Использование сканирующей туннельной микроскопии для анализа магнитной структуры и поверхностных ...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Смирнов, А. М.
Перспективные технологии, оборудование и аналитические системы для материаловедения и наноматериалов: Использование сканирующей туннельной микроскопии для анализа магнитной структуры и поверхностных ...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Смирнов, А. М.
Использование сканирующей туннельной микроскопии для анализа магнитной структуры и поверхностных дефектов перовскитоподобного манганита La0.65Sr0.35Mn0.75Ti0.25O3 / А. М. Смирнов, А. Г. Баделин, Е. И. Безниско, В. К. Карпасюк, З. Р. Мусаева, А. А. Щепеткин // Перспективные технологии, оборудование и аналитические системы для материаловедения и наноматериалов : материалы I Междунар. казахстанско-рос.-яп. науч. конф. и VI рос.-яп. семинара (МИСиС-Interactive Corp.-ВКГТУ 24-25 июня 2008 года) / ред. Л. В. Кожитов . – М. : Изд-во МГИУ, 2008 . – С. 559-565 .
Смирнов, А. М.
Использование сканирующей туннельной микроскопии для анализа магнитной структуры и поверхностных дефектов перовскитоподобного манганита La0.65Sr0.35Mn0.75Ti0.25O3 / А. М. Смирнов, А. Г. Баделин, Е. И. Безниско, В. К. Карпасюк, З. Р. Мусаева, А. А. Щепеткин // Перспективные технологии, оборудование и аналитические системы для материаловедения и наноматериалов : материалы I Междунар. казахстанско-рос.-яп. науч. конф. и VI рос.-яп. семинара (МИСиС-Interactive Corp.-ВКГТУ 24-25 июня 2008 года) / ред. Л. В. Кожитов . – М. : Изд-во МГИУ, 2008 . – С. 559-565 .