Электронный каталог библиотеки МИСИС

Книга (аналит. описание)

Маняхин, Ф. И.
Метод определения параметров мелких энергетических уровней в полупроводниковых структурах температурным сканированием концентрации зарядовых центров / Ф. И. Маняхин, А. Н. Душин, Г. А. Легай // Перспективные технологии, оборудование и аналитические системы для материаловедения и наноматериалов : материалы I Междунар. казахстанско-рос.-яп. науч. конф. и VI рос.-яп. семинара (МИСиС-Interactive Corp.-ВКГТУ 24-25 июня 2008 года) / ред. Л. В. Кожитов . – М. : Изд-во МГИУ, 2008 . – С. 594-597 .