Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: 4. Применение методов EXAFS-спектроскопии для исследования структуры дефектов в щелочно-галоидных...
4. Применение методов EXAFS-спектроскопии для исследования структуры дефектов в щелочно-галоидных...
Книга (аналит. описание)
Автор:
Формирование и свойства центров люминесценции в щелочно-галоидных кристаллах: 4. Применение методов EXAFS-спектроскопии для исследования структуры дефектов в щелочно-галоидных...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор:
Формирование и свойства центров люминесценции в щелочно-галоидных кристаллах: 4. Применение методов EXAFS-спектроскопии для исследования структуры дефектов в щелочно-галоидных...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
4. Применение методов EXAFS-спектроскопии для исследования структуры дефектов в щелочно-галоидных кристаллах // Формирование и свойства центров люминесценции в щелочно-галоидных кристаллах / В. И. Кочубей . – М. : Физматлит, 2006 . – С. 120-143 .
4. Применение методов EXAFS-спектроскопии для исследования структуры дефектов в щелочно-галоидных кристаллах // Формирование и свойства центров люминесценции в щелочно-галоидных кристаллах / В. И. Кочубей . – М. : Физматлит, 2006 . – С. 120-143 .