Электронный каталог -Мороз, Э. М. - Возможности рентгенографических методов в структурной диагностике наноматериалов- Absopac

Книга (аналит. описание)
Автор: Мороз, Э. М.
Высокие технологии в промышленности России. (Материалы и устройства функциональной электроники и микроэлектроники): материалы XV Междунар. научно-техн. конф. (Москва, МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2009, ...: Возможности рентгенографических методов в структурной диагностике наноматериалов
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Книга (аналит. описание)

Мороз, Э. М.
Возможности рентгенографических методов в структурной диагностике наноматериалов / Э. М. Мороз // Высокие технологии в промышленности России. (Материалы и устройства функциональной электроники и микроэлектроники): материалы XV Междунар. научно-техн. конф. (Москва, МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2009, 9-11 сент.). Тонкие пленки в электронике: материалы XXII Междунар. симп. (Москва, МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2009, 9-11 сент.) / ред. А. Ф. Белянин, др. . – М. : ЦНИТИ 'Техномаш', 2009 . – С. 118-138 .

Личный кабинет :

Электронный каталог библиотеки МИСИС

Поиск :